Cristalografía aplicada a sistemas cerámicos y minerales de interés
tecnológico y cultural.
La cristalografía aplicada utiliza herramientas como la Difracción de rayos x, la
microscopía electrónica, entre otras técnicas, para caracterizar materiales de interés
tecnológico a nivel atómico. En particular el Método de Rietveld de refinamiento
estructural basado en la Difracción de polvos ha demostrado ser de gran utilidad en
la determinación de parámetros cristalinos y composicionales de materiales sólidos.
Esta línea es transversal a diversas líneas de investigación del grupo de Materiales
cerámicos del CETMIC.
Contacto: Susana Conconi msconconi@cetmic.unlp.edu.ar